Point d'origine
Beijing, China
Type
Microscope à force atomique
Support personnalisé
OEM, ODM
Modes d'opération
Mode de contact, mode de friction, modes étendus de Tapping, phase
Taille de l'échantillon
Radius≤ 90mm,H≤ 20mm
Gamme max. scan
X/Y: 20μm, Z: 2μm
Résolution
X/Y: 0.2 nm, Z: 0.05nm
Taux de scan
0.6Hz ~ 4.34Hz
Contrôle de numérisation
XY: D/A 18 bits, Z: D/A 16 bits
Échantillonnage des données
Un canal multiple A/D 14 bits et un double 16 bits A/D simultanément
Fenêtres
Compatible avec Windows 98/2000/XP/7/8
Nom
Tout-en-un nouveau système électronique à balayage de force atomique