Passez la souris au-dessus pour zoomer
Microscope de mesure électronique de laboratoire, scanner numérique afm pour microscope atomique, force
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Attributs clés
Spécification de l'industrie de base.
Garantie
1 year
Théorie
Atomic Force Microscope
Drawtube
No
Autres attributs
Point d'origine
Henan, China
Support personnalisé
OEM
Marque nom
NANBEI
Numéro de Type
FM-Nanoview 1000
Name
Lab digital scanning electron afm atomic force microscopy microscope
Operation modes
Contact mode, Tapping mode
Sample size
diameter≤90 mm;H≤20 mm
Max. scan range
X/Y: 20um, Z: 2 um
Resolution
X/Y: 0.2 nm, Z: 0.05nm
Scan angle
0~360 °
Sample movement
±6.5mm
Pulse width of approaching motor
10±2 ms
Communication interface
USB2.0
Running system
Windows98/2000/XP/7/8
Emballage et livraison
Détails d'emballage
Boîtier en bois prix de la microscopie à balayage afm à force atomique tout-en-un
Unités de vente :
Article unique
Taille du paquet individuel :
40X45X50 cm
Poids brut par article :
30.000 kg
Délai
| Quantité (jeu) | 1 - 1 | > 1 |
| Durée estimée (jours) | 10 | À négocier |
Personnalisation
Customized logo
Commande min.: 10
Customized packaging
Commande min.: 10
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Description des produits par le fournisseur
1 - 9 jeu
20 000,00 $US
>= 10 jeu
18 000,00 $US
Quantité
Expédition
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Total de l'expédition
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